全自动晶圆AOI由晶圆自动上下料组件和晶圆检测台组成。 根据需求,可适用晶圆切割后或切割前两种Wafer 类型。 |
设备尺寸 | · W1500*L1000*H1700mm |
适用制程 | · 晶圆外观检测 |
晶圆尺寸 | · 6寸,8寸 |
上料方式 | · 全自动上下料/晶圆机器人 |
机械系统 | · X/Y驱动:直线电机 · X/Y重复定位精度:±10um · 驱动:中空转台 · 重复定位精度:±30sec · Z驱动:步进+丝杆 · 吸盘组件:陶瓷吸盘 |
视觉系统 | · 摄像系统:500万像素黑白CCD两套 · 照明系统:点同轴光+环光 · 镜头:远心镜头 · 检测精度:≥3um · 检测项目:芯片膜破,表面particle,膜变形等 · 检测效率:70K~90K pcs/h(视芯片尺寸及检测项目顶) |
软件系统 | · 操作系统:Windows 10 · 工控系统:运动控制卡 · 检测结果输出:二维码对应的mapping及图像输出;txt文件输出 |
建议使用环境 | · 电源规格:AC220±10, 50/60HZ, 2.5KW · 环境温度:0-40℃ · 环境湿度:20-60%RH(无凝霜) |
联系方式:0512-52998000 | 18013591616
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