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晶圆AOI

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全自动晶圆AOI由晶圆自动上下料组件和晶圆检测台组成。


根据需求,可适用晶圆切割后或切割前两种Wafer 类型。


设备尺寸

· W1500*L1000*H1700mm

适用制程

· 晶圆外观检测

晶圆尺寸

· 6寸,8寸

上料方式

· 全自动上下料/晶圆机器人

机械系统

· X/Y驱动:直线电机

· X/Y重复定位精度:±10um

· 驱动:中空转台

· 重复定位精度:±30sec

· Z驱动:步进+丝杆

· 吸盘组件:陶瓷吸盘

视觉系统

· 摄像系统:500万像素黑白CCD两套

· 照明系统:点同轴光+环光

· 镜头:远心镜头

· 检测精度:≥3um

· 检测项目:芯片膜破,表面particle,膜变形等

· 检测效率:70K~90K pcs/h(视芯片尺寸及检测项目顶)

软件系统

· 操作系统:Windows 10

· 工控系统:运动控制卡

· 检测结果输出:二维码对应的mapping及图像输出;txt文件输出

建议使用环境

· 电源规格:AC220±10, 50/60HZ, 2.5KW

· 环境温度:0-40℃

· 环境湿度:20-60%RH(无凝霜)






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